Complex diagnostic of CdTe after under-threshold laser irradiation by photoluminescence, photoconductivity, and electrophysical methods
Дата
1995-11-03
Автори
Kopishynska, O. P.
Babentsov, V. N.
Vlasenko, O. I.
Mozol', P. E.
Копішинська, Олена Петрівна
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Опис
Vladimir N. Babentsov, Aleksandr I. Vlasenko, Peter E. Mozol', Elena P. Kopishinskaya. Complex diagnostic of CdTe after under-threshold laser irradiation by photoluminescence, photoconductivity, and electrophysical methods // Proceedings SPIE 2648, International Conference on Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics, (3 November 1995). 1995. P.370-377.
Ключові слова
Optoelectronics, semiconductors, Luminescence, Laser damage threshold, Excitons Raman scattering, Ruby lasers